未老化的交聯(lián)聚乙烯低煙低鹵電纜介質(zhì)損耗因數(shù)通常不大于0.001，若測量值較初值明顯增加或超過0.002，則需進一步試驗。以下為具體說明：
低煙低鹵電纜（如交聯(lián)聚乙烯電纜）的介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）是衡量其絕緣性能的關(guān)鍵參數(shù)。在工頻電壓或0.1Hz低頻電壓下測量時，未老化的交聯(lián)聚乙烯電纜介質(zhì)損耗因數(shù)通常不大于0.001。若在同等測量條件下，介質(zhì)損耗因數(shù)較初值明顯增加或超過0.002，則需進一步試驗以評估絕緣狀態(tài)。
介質(zhì)損耗因數(shù)反映絕緣介質(zhì)在交流電壓下的能量損耗特性，其值越小表明絕緣性能越優(yōu)。該參數(shù)受絕緣材料、溫度、頻率及電壓等因素影響，例如：
絕緣材料：交聯(lián)聚乙烯的介質(zhì)損耗因數(shù)遠低于聚氯乙烯，這也是前者適用于高壓電纜而后者僅用于低壓電纜的原因之一。
溫度：環(huán)境溫度升高會導致介質(zhì)損耗因數(shù)增大，進而影響電纜載流量。
頻率：介質(zhì)損耗因數(shù)與頻率成反比，0.1Hz超低頻電壓下測試可更敏感地檢測絕緣老化。
電壓：介質(zhì)損耗與電壓平方成正比，高壓電纜需嚴格控制介質(zhì)損耗因數(shù)。
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