環(huán)保屏蔽電纜屏蔽層的耐電暈性能標(biāo)準(zhǔn)主要關(guān)注材料在電暈放電環(huán)境下的壽命衰減特性、局部放電起始電壓閾值及絕緣性能退化速率,需通過加速老化實(shí)驗(yàn)?zāi)M實(shí)際工況,并遵循IEC 60034-18-41、ASTM D2275、GB/T 4074.23等國(guó)際通用標(biāo)準(zhǔn)。以下為詳細(xì)說明:
一、耐電暈性能的核心檢測(cè)指標(biāo)
局部放電起始電壓:材料首次出現(xiàn)穩(wěn)定放電的臨界電壓值,反映屏蔽層抵抗局部電場(chǎng)集中的能力。
電暈壽命:材料在設(shè)定場(chǎng)強(qiáng)下失效的時(shí)間,直接體現(xiàn)耐電暈性能的持久性。
介質(zhì)損耗角正切:表征高頻電場(chǎng)中的能量損耗,數(shù)值越低說明材料在高頻環(huán)境下的絕緣性能越穩(wěn)定。
擊穿場(chǎng)強(qiáng):材料完全失去絕緣能力的極限電壓,是評(píng)估屏蔽層耐高壓能力的關(guān)鍵指標(biāo)。
表面電阻率與體積電阻率:分別反映電流沿材料表面泄漏的阻力及穿透材料內(nèi)部的阻力,數(shù)值越高說明屏蔽層的絕緣性能越好。
二、耐電暈性能的檢測(cè)方法
加速老化實(shí)驗(yàn):通過模擬實(shí)際工況中的電暈放電環(huán)境,對(duì)屏蔽層進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間、高強(qiáng)度的電暈處理,觀察其性能衰減情況。
局部放電檢測(cè):使用局部放電檢測(cè)儀監(jiān)測(cè)屏蔽層在電暈放電過程中的局部放電情況,評(píng)估其抵抗局部放電的能力。
介質(zhì)損耗測(cè)試:利用介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量屏蔽層在高頻電場(chǎng)下的能量損耗,評(píng)估其高頻絕緣性能。
擊穿電壓試驗(yàn):通過擊穿電壓試驗(yàn)機(jī)對(duì)屏蔽層施加逐漸升高的電壓,直至其發(fā)生擊穿,記錄擊穿場(chǎng)強(qiáng)值。
三、耐電暈性能的國(guó)際通用標(biāo)準(zhǔn)
IEC 60034-18-41:國(guó)際電工委員會(huì)制定的標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了旋轉(zhuǎn)電機(jī)絕緣系統(tǒng)的耐電暈性能測(cè)試方法及評(píng)估指標(biāo)。
ASTM D2275:美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)制定的標(biāo)準(zhǔn),適用于評(píng)估絕緣材料在電暈放電環(huán)境下的耐久性。
GB/T 4074.23:中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了電線電纜絕緣材料耐電暈性能的測(cè)試方法及評(píng)估要求。
四、環(huán)保屏蔽電纜屏蔽層耐電暈性能的特殊要求
環(huán)保性:屏蔽層材料需符合環(huán)保要求,不含有毒有害物質(zhì),如鉛、汞、鎘等重金屬及多溴聯(lián)苯、多溴二苯醚等有害物質(zhì)。
耐高溫性:部分環(huán)保屏蔽電纜需在高溫環(huán)境下使用,因此屏蔽層材料需具備良好的耐高溫性能,以確保在高溫下仍能保持穩(wěn)定的耐電暈性能。
耐化學(xué)腐蝕性:屏蔽層材料需具備抵抗臭氧、氮氧化物等化學(xué)物質(zhì)腐蝕的能力,以延長(zhǎng)電纜的使用壽命。
- 載流量計(jì)算PUR電纜:動(dòng)態(tài)散熱如何考慮?
- 光纖復(fù)合PUR電纜:光纜與電纜能否共擠?
- 芯線色標(biāo)PUR電纜:是否遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)?
- 環(huán)保型PUR電纜:是否符合RoHS/REACH法規(guī)?
- 成束燃燒PUR電纜:是否通過IEC 60332-3測(cè)試?
